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等離子體發射光譜測量系統
產品簡介

該系統用于測量等離子體發射光譜測量,采用模塊化設計 采用光纖導光或空間光耦合

產品型號:OmniES-Plasma
更新時間:2024-05-20
廠商性質:生產廠家
訪問量:3458
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 ● 該系統用于測量等離子體發射光譜測量,采用模塊化設計
● 采用光纖導光或空間光耦合
● 可定位測量空間位置(選配功能)
● 測量光譜范圍:200-2500nm或1μm-14μm
● 光譜分辨率:優于0.05nm(@1200g/mm光柵)
● 波長準確度:優于±0.2nm
● 波長重復性:優于±0.1nm
● 光譜儀控制軟件包含濾光片輪自動控制功能、光譜曲線繪制功能、全自動測量、數據運算、保存及打印等功能
 

 

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